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數(shù)顯式硅酸根分析儀(不帶打印) GXF-215C

數(shù)顯式硅酸根分析儀(不帶打印) GXF-215C

簡(jiǎn)要描述:
數(shù)顯式硅酸根分析儀(不帶打印) GXF-215C
測(cè)量范圍 0~199.9μg/LSiO2
基本誤差 ≤±2.5%FS
重復(fù)性誤差 ≤±0.5%FS
短期漂移 ≤±0.5%FS
長(zhǎng)期漂移 ≤±2.5%FS。

產(chǎn)品時(shí)間:2020-09-03

訪問量:1143

廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家

生產(chǎn)地址:

數(shù)顯式硅酸根分析儀(不帶打印) GXF-215C 

性能特點(diǎn)
?精度高,穩(wěn)定性好。
?檢測(cè)元件具有恒溫環(huán)境保證了儀器高穩(wěn)定性,并使儀器更快的進(jìn)入到正常工作狀態(tài),減小了機(jī)內(nèi)外溫度變化對(duì)其穩(wěn)定性的影響。
?儀器在不工作時(shí)自動(dòng)待機(jī),有效的保護(hù)了光源,延長(zhǎng)了光源的使用壽命。
?經(jīng)濟(jì)耐用,可以在現(xiàn)場(chǎng)長(zhǎng)期連續(xù)運(yùn)行。
造型新穎美觀,使用操作方便

數(shù)顯式硅酸根分析儀(不帶打印) GXF-215C 
測(cè)量范圍 0~199.9μg/LSiO2
基本誤差 ≤±2.5%FS
重復(fù)性誤差 ≤±0.5%FS
短期漂移 ≤±0.5%FS
長(zhǎng)期漂移 ≤±2.5%FS

 

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